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Polian, Ilia

Advanced modeling of faults in reversible circuits / Ilian Polian ; John P. Hayes.


Eintrag für die Universitätsbibliographie - leider kein Volltext in OPUS verfügbar!

Originalveröffentlichung: (2010) In: IEEE East-West Design & Test Symposium <2010, Saint Petersburg>: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS '10) : St. Petersburg, Russia, September 17 - 20, 2010. - Piscataway, NJ : IEEE, 2010. - S. 376-381

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Beteiligte Einrichtung: Mitarbeiter Lehrstuhl/Einrichtung der Fakultät für Informatik und Mathematik
Dokumentart: InProceedings (Aufsatz / Paper einer Konferenz etc.)
Sprache: Englisch
Erstellungsjahr: 2010
Bemerkung: Volltext für das Uni-Netz freigeschaltet: Link


URL dieser Seite: http://www.opus-bayern.de/uni-passau/volltexte/2011/2264/


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22.10.10